高速/中波/長波熱像儀

FLIR X 系列

關鍵測試分秒必爭，不容錯失

在科學、國防和航太研究等嚴苛環境中，關鍵測試事件可能僅持續一瞬間，遺漏數據的代價可能十分高昂。因此，擁有一台高效能紅外線熱像儀至關重要，能完美捕捉並串流高速事件，確保數據零遺失、幀數不遺漏。

隆重推出 FLIR X6980-HS 和 X8580-HS：X 系列家族的最新成員。這些高速、高解析度紅外線熱像儀提供無與倫比的數據串流能力，保證零幀遺漏。

在測試成本高昂的領域，即使遺失單一幀畫面也可能代表錯失關鍵數據。

消除數據遺失和幀數遺漏

直接錄製到可拆卸的 4 TB 固態硬碟 (SSD)，長時間以最快幀率錄製，絕不遺漏任何幀數。

輕鬆分享數據

透過最新的 10 GigE、CXP 2.1 和 CameraLink Full 高速介面，直接錄製到 PC 時，設定更加簡化。精準記錄高速事件。專有的觸發、同步和精確的 IRIG 時間戳記系統，確保準時精確錄製。

電動鏡頭

FLIR 新一代 X 系列熱像儀與其全系列的 LWIR 和 MWIR 電動鏡頭相容。這些熱像儀經過客製化設計，提供最佳效能，可實現更精確的遠端對焦調整，並且與 Research Studio 完整整合，以加強控制。

FLIR Research Studio 分析軟體

Research Studio 提供使用者快速有效的方式來顯示、記錄、分析和報告準確的熱數據。透過簡化、直觀的 GUI 和獨特的功能集，各層級的使用者都可以輕鬆地同時記錄和評估來自多台 FLIR 熱像儀和記錄來源的熱數據。

選擇適合您研究的熱像儀

FLIR X8580-HS：高畫質影像，快速幀率

無損檢測 (NDT)、先進的輻射測量、電子元件設計和目標特徵描述，都受益於 X8580-HS InSb 的高畫質 1280 × 1024 熱感測器，它能以極低的雜訊偵測微小的溫度差異。此外，X8580-HS SLS 配備長波應變層超晶格檢測器，提供更短的快照速度，讓您能捕捉高速事件的清晰定格影像。

FLIR X6980-HS：極快的速度，清晰的熱影像

要真正停止高速事件的運動——彈道測試、快速的熱瞬變，甚至是鋰離子電池的破壞性測試——您需要一台能夠以每秒超過一千幀的速度捕捉詳細影像的相機。X6980-HS InSb MWIR 和 X6980-HS SLS LWIR 相機提供在最嚴苛的熱分析情境中所需的速度和靈敏度。